热辅助光致衰减(LeTID)
热辅助光致衰减(LeTID)是晶体硅电池在较高温度和光照条件下面临的一种衰减模式，在P型单多晶电池和N型电池中都会发生。和传统的LID(光致衰减)太阳能电池受到光照后产生的硼氧复合体降低少数载流子寿命，导致功率下降的现象有所不同，LeTID 现象会随着环境温度的升高而加强，引起组件功率较大的衰减，已经引起了光伏行业广泛关注。
怎样大幅降低LeTID的衰减，减少电站收益损失，全球光伏技术人员都在不断研究。目前，LeTID衰减的具体机理尚未完全清晰，整个行业还在深入研究中。知名学术机构认为产生的原因有：
1)氢钝化失效造成。暗退火导致氢原子扩散，诱发衰减行为变化。新南威尔士大学UNSW推测氢原子不仅起到钝化杂质和缺陷的作用，同时也可以诱发形成复合敏感中心。单晶和多晶硅片在热过程中形成类似的复合敏感中心。UNSW提出HID (氢诱导衰减)衰减机理，提出新的四态模型，引入氢原子RESERVOIR状态，较好地解释了多次“暗退火-光照”循环过程的少子寿命变化。氢原子与其它杂质形成的缺陷对的价态变化被认为是衰减根源。
2)金属杂质和缺陷导致。德国弗劳恩霍夫太阳能系统研究所Fraunhofer有研究表明，LeTID衰减在整个电池片面积内是相对比较均匀的，但在晶界位置发现了较低的衰减，可能是吸杂导致。同时在高衰减的区域也发现有钝化膜损坏和含Cu元素的杂质颗粒存在，说明杂质和缺陷可能是导致衰减的因素之一。
3)硼氧缺陷对导致，和LID有一定重叠。——德国康斯坦茨国际太阳能研究中心ISC Konstanz
阿特斯一直秉持严谨的技术态度，积极研究LeTID光衰问题。研究人员将电池LeTID衰减抑制技术应用在P型以及N型产品上，通过严格控制硅料来源，管控杂质含量和少子寿命，硅片进一步按结构缺陷筛选，减少可能引起光衰的复合中心。另一方面，在电池制作过程中，通过优化钝化工艺，减少工艺过程中缺陷复合中心的生成，并结合独特的电注入退火工艺(通过在特定温度下注入电流，改变硅体内氢存在状态，降低氢形成LeTID复合中心的风险)，有效抑制了电池的衰减。此外，还揭示了在LeTID条件下由于金属化区域复合增大导致的衰减机制，并提出解决方案。
从源头的高质量选材，到严格先进的电池制作工艺，再结合阿特斯先进的电注入退火抗衰减工艺，阿特斯组件的抗LeTID表现优异。阿特斯依据IEC测试标准【暗态，75℃，IInject=2*(Isc-Impp)，162h/cycle】，分别对单晶PERC组件和N型TOPCon组件LeTID衰减进行了测试，经过2个循环即324小时后， PERC组件平均衰减为0.3%，而N型组件平均衰减仅为0.02%，衰减远小于业内水平，为组件更优的转换效率和更高的发电能力提供技术基础。
2022年6月，由阿特斯牵头制订的IEC TS 63202-4 Photovoltaic cells - Part 4: Measurement of light and elevated temperature induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells(晶体硅光伏电池热辅助光致衰减测试方法)正式发布。该标准的发布进一步提高了我国在光伏电池领域的国际标准制定权和话语权，并有助于快速判断晶体硅电池的LeTID风险，评估抗LeTID工艺措施的有效性，最终提升光伏组件的户外发电性能。
阿特斯在技术上的严谨性和专业度，使得多年来一直引领光伏行业技术发展。作为领跑全球的光伏品牌，阿特斯始终致力于为客户创造高质量的产品和最优质的服务，为社会创造价值，持续推动光伏技术创新研究和产业化。对于每一个可能影响组件性能的现象，阿特斯都进行严格的测试，确保组件在实际应用环境中具有长期可靠性和高发电表现，为客户提供高收益的价值和回报!
