根据PVEL对数百种不同品牌组件进行的DH2000测试结果显示，不同技术(包括PERC、TOPCon、HJT和CdTe)的平均衰减率为1.2%至1.7%，而晶科能源的N型TOPCon双面组件的平均衰减率仅为0.55%，在所有测试组件中最低。
PVEL的湿热(DH)测试模拟了典型的高温高湿环境下湿气的长期渗透对组件电池及封装材料的性能影响，当低质量的组件或不合格的层压工艺导致封装材料失效时，湿气会渗入组件并腐蚀内部材料，可能导致产品性能失效和使用安全问题。
DH2000是一种可靠性测试，将组件放置在85°C高温和85%湿度的环境箱中，持续测试2000小时。该测试的持续时间是IEC认证所要求的两倍，目的是为了验证高温和高湿条件下光伏组件电池及封装材料的可靠性。
图1 PQP测试前，工厂的目视、性能和光衰测试工序
图2：PQP测试结果
图3 PQP测试分析
关于PVEL：
作为全球领先的独立实验室，PVEL通过其产品认证计划(PQP)对光伏制造商的光伏组件进行测试，并根据测试结果发布光伏组件可靠性评分卡。
PVEL对过去18个月内工厂生产的组件进行了严格审查，并对组件的性能进行了测试。PQP包括热循环、湿热、动态机械载荷、PID和PAN等多个测试项目。
